Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106
сборник
Год издания:
2008
Место издания:
Великий Новгород
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич
Статьи, опубликованные в сборнике
2008
Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
Карцев А.А.
,
Ломов А.А.
,
Бушуев В.А.
,
Караванский А.В.
,
Васильев А.Л.
в сборнике
Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106
, место издания
Великий Новгород
, тезисы, с. 103-106
2008
Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
Карцев А.А.
,
Ломов А.А.
,
Бушуев В.А.
,
Караванский А.В.
,
Васильев А.Л.
в сборнике
Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106
, место издания
Великий Новгород
, тезисы, с. 103-106