Proc. SPIEсборник
Статьи, опубликованные в сборнике
-
-
1999
Modeled and measured scatter from vias
-
Stover J.,
Scheer C.,
Ivakhnenko V.,
Eremin Yu,
Grisina N.
-
в сборнике Proc. SPIE, издательство SPIE, the International Society for Optical Engineering (Bellingham, WA, United States), том 3732, тезисы, с. 65-71