Материалы 2-го научного семинара с международным участием “Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)”, Великий Новгород, 26-28 мая 2004, С. 54-56сборник
Год издания:2004
Место издания:НовГУ Новгородский госуниверситет Великий Новгород