Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2016)
сборник
Год издания:
2016
Том:
1
Издательство:
Российская академия наук
Местоположение издательства:
Москва
ISBN:
978-5-89589-094-3
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Лапшин Ростислав Владимирович
Статьи, опубликованные в сборнике
2016
Производительная нечувствительная к дрейфу распределённая калибровка сканера зондового микроскопа в нанометровом диапазоне
Лапшин Р.В.
в сборнике
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2016)
, издательство
Российская академия наук
(Москва)
, том 1, тезисы, с. 268-269