2010 IEEE International SOI Conference (SOI)сборник
Статьи, опубликованные в сборнике
-
-
2010
Reliability study in capacitor less 1T-RAM cells on SOI
-
Aoulaiche M.,
Collaert N.,
Simoen E.,
Mercha A.,
De Wachter B.,
Bourdelle K.K.,
Nguyen B.Y.,
Boedt F.,
Delprat D.,
Jurczak M.,
Altimime L.
-
в сборнике 2010 IEEE International SOI Conference (SOI), место издания IEEE
DOI