|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
2010 International Workshop on Junction Technology Extended Abstractsсборник
- Год издания: 2010
- Место издания: IEEE
- Добавил в систему: Бурдель Константин Константинович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2010 Formation and characterization of ultra-thin Ni silicides on strained and unstrained silicon
- Knoll L., Zhao Q.T., Habicht S., Urban C., Bourdelle K.K., Mantl S.
- в сборнике 2010 International Workshop on Junction Technology Extended Abstracts, место издания IEEE DOI