|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
International Symposium for Testing and Failure Analysisсборник
- Год издания: 2017
- Издательство: DAAAM International Vienna
- Местоположение издательства: Austria
- Добавил в систему: Muydinov Ruslan Yur´evich
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2017 Backside Protection Structure for Security Sensitive ICs
- Amini Elham, Muydinov Ruslan, Szyszka Bernd, Boit Christian
- в сборнике International Symposium for Testing and Failure Analysis, издательство DAAAM International Vienna (Austria), с. 1-6 DOI