Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Symposium BB. Current trends in optical and X-ray metrology of advanced materials for nanoscale devices
серия сборников
Добавил в систему:
Степанова Ирина Владимировна
Сборники, входящие в состав серии
2018
E-MRS 2018 Spring Meeting. Strasbourg, France – June 18-22
серия
Symposium BB. Current trends in optical and X-ray metrology of advanced materials for nanoscale devices
место издания
Strasbourg, France
сборник тезисов