ИСТИНА

• Охват: Международная
• Даты проведения: 21-27 сентября 2009
• Место проведения: Нальчик, Russia
• Добавил в систему: Канунникова Ольга Михайловна

Доклады:

• 2009 Методика рентгеноэлектронного анализа атомной структуры тонких слоев силикатных стекол (Устный)
• Автор: Канунникова О.М.

• 2009 Физико-химические превращения в тонких поверхностных слоях свинцово-силиктных стекол при внешних воздействиях. (Устный)
• Авторы: Гончаров О.Ю., Канунникова О.М.