Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
SPIE Optics + Optoelectronics
Выставка
Охват:
Международная
Даты проведения:
10-13 мая 2017
Место проведения:
Czech Republic
Добавил в систему:
Жолудев Сергей Иванович
Доклады:
2017
Evaluation of laser-electron x-ray source and related optics for x-ray diffractometry and topography
(Стендовый)
Авторы:
Sergey Polyakov
,
Igor Artyukov
,
Vladimir Blank
,
Sergey Zholudev
,
Alexander Vinogradov