ИСТИНА

• Даты проведения: 1996
• Место проведения: Palermo, Italy, Italy
• Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич

Доклады:

• 1996 An advanced X-ray HRD studies of microdefects in Si doped GaAs bulk crystal.
• Авторы: Ломов А.А., Бушуев В.А., Bocchi C., Имамов Р.М., Franzosi P.

• 1996 Effect of multiple diffuse scattering on Laue X-ray diffraction by crystals with microdefects.
• Автор: Бушуев В.А.

• 1996 Models of the correlated interfacial roughness in multilayers and diffuse X-ray scattering.
• Авторы: Бушуев В.А., Козак В.В.

• 1996 Wave-optical description of X-ray phase contrast images of weakly absorbing non-crystalline objects with a high-resolution diffractometry.
• Авторы: Бушуев В.А., Ингал В.Н., Беляевская Е.А.