ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ФНКЦ РР |
||
Было изучено влияние пошагового отжига в вакууме образцов восстановленного оксида графена на его структуру и состав, в частности на концентрацию кислорода. Оксид графена, полученный по известной методике, был восстановлен в микроволновой печи и охарактеризован методами колебательной спектроскопии (ИК и Раман). Состав газовой фазы в процессе отжига контролировался масс-спектральным методом. Кислород покидал образцы в виде оксидов углерода в основном в температурном интервале 770-1070 К. Относительное содержание кислорода в образцах, химическое состояние атомов углерода, определялось методом РФЭС. Размер графеновых областей, среднее число графеновых слоев и основные типы дефектов были определены методами РФА и электронной микроскопии (SEM и TEM)