ИСТИНА

В докладе рассмотрены основные понятия обратимой схемотехники, при этом основное внимание уделено существующим моделям построения сбоеустойчивых обратимых схем и методам их тестирования. На сегодняшний день стал уже очевиден кризис специализированных классических информационных технологий на элементной базе интегральных микросхем (ИМС), которые перестают отвечать возрастающим требованиями по быстродействию, объёмам используемой памяти, плотности элементов на кристалле, надёжности вычислений и др. В~связи с этим понятны причины активизации в последнее время интереса к развитию методов синтеза обратимых схем. На этом пути, однако, возникает проблемы надёжности функционирования ИМС, и, в первую очередь - проблема их устойчивости к кратковременным самоустраняемым отказам или сбоям (SEU, single event upsets). Причинами сбоев являются воздействия на схему различных видов помех: радиационных, скачков напряжений питания, деградаций сигналов во времени и др. В связи с данной проблемой в дакладе рассматриваются основные понятия обратимой схемотехники и методы синтеза сбоеустойчивых обратимых схем. Предложен оригинальный подход к указанной проблеме, основанный на помехоустойчивом кодировании в конечном Хэмминговом пространстве. Конкретно, представлена сбоеучтойчивая модификация элемента Тоффоли, синтезированная в рамках предлагаемого подхода.