ИСТИНА

В работе проводится характеризация сверхструктурных свойств в монокристаллических пластинах фосфида индия InP и кремния, легированных донорными примесями с концентрацией около . Ранее образец InP был подвергнут процедуре порообразования. Исследования проводились методами малоуглового рассеяния рентгеновских лучей (МУРР) и рентгеновской дифрактометрии (РД). Данные РД и МУРР были зарегистрированы на лабораторной установке МАРС-2 (ФТИ им. А.Ф. Иоффе) с источником рентгеновского излучения Rigaku с вращающимся анодом, а также на дифрактометре ДРОН-УМ1, с применением Cu излучения. Анализ данных РД показал, что образцы остались монокристаллическими (либо состоят из одинаково ориентированных доменов). Совокупное исследование кривых МУРР, полученных при разных направлениях волнового вектора, показало присутствие в образцах периодической структуры с симметрией в плоскости, параллельной поверхности пластины. Периоды симметрии составили для фосфида 260 и 450 nm в кристаллографических направлениях и соотвтетственно, а для кремния 220 и 340 nm, соотвтетственно, в тех же кристаллографических направлениях. Таким образом, в обоих образцах формируется двумерная прямоугольная либо трехмерная орторомбическая решетка.