Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Holographic interferometry of thin-walled structure distortion during the stereolithography process
доклад на конференции
Авторы:
Сайфутдинов Ю.Н.
,
Бычков П.С.
Международная Конференция :
VI Международная конференция «Проблемы математической физики и математического моделирования»
Даты проведения конференции:
25-27 мая 2017
Дата доклада:
25 мая 2017
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Сайфутдинов Ю.Н.
Бычков П.С.
Место проведения:
Москва, Russia
Добавил в систему:
Казаков Кирилл Евгеньевич
Прикрепленные файлы
№
Имя
Описание
Имя файла
Размер
Добавлен