Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
STM evidence of dimensional quantization on the nanometer size surface defects
доклад на конференции
Авторы:
Орешкин А.И.
,
Маслова Н.С.
,
Rabe J.P.
,
Калачев А.А.
,
Савинов С.В.
Международная Конференция :
International Conference Nanostructures: physics and technology
Даты проведения конференции:
1995
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Орешкин А.И.
не указан
Орешкин А.И.
Маслова Н.С.
Rabe J.P.
Калачев А.А.
Савинов С.В.
Место проведения:
St. Petersburg
Добавил в систему:
Орешкин Андрей Иванович