|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Interferometric sensing of bacteria located on a double etched porous silicon layerдоклад на конференции
- Авторы: Gongalsky M.B., Osminkina L.A., Agafilushkina S.N., Koval A.A.
- Международная Конференция : European Materials Research Society Spring Meeting 2019
- Даты проведения конференции: 27-31 мая 2019
- Дата доклада: 29 мая 2019
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Ницца, France
- Добавил в систему: Осминкина Любовь Андреевна