|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Effect of ion irradiation and annealing on quantitative composition of SiO2-based memristive structeresдоклад на конференции
- Авторы: Okulich E.V., Vorobyov V.L., Tetelbaum D.I., Chigirinsky Yu I., Dudin Yu A., Bayankin V.Ya
- Всероссийская с международным участием Конференция : // IV International Conference on «Modern problems in physics of surfaces and nanostructures»
- Даты проведения конференции: 26-29 августа 2019
- Дата доклада: 27 августа 2019
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: г. Ярославль, Russia
- Добавил в систему: Воробьёв Василий Леонидович