ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ФНКЦ РР |
||
Существующие методы моделирования молекулярных систем (Монте-Карло и молекулярная динамика) не позволяют прогнозировать наличие в системе нескольких эквипотенциальных состояний. Поскольку интерфейс пленка/подложка как раз относится к системам, имеющим несколько равновероятных вариантов сборки, для его моделирования требуется новый подход. В данной работе предлагается подход к моделированию энергетической поверхности интерфейса пленка/подложка и на примере систем h-LuFeO3 (пленка)/YSZ(111)(подложка), h-LuFeO3/YSZ(100) и o-LuFeO3 /YSZ(100) рассматривается его пригодность к прогнозированию вариантности реальных тонкопленочных структур.