Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
An advanced X-ray HRD studies of microdefects in Si doped GaAs bulk crystal.
доклад на конференции
Авторы:
Ломов А.А.,
Бушуев В.А.
,
Bocchi C.
,
Имамов Р.М.
,
Franzosi P.
Конференция (Симпозиум) :
Proc. 3rd European Symposium “X-Ray Topography and High Resolution Diffraction”, Palermo, Italy, 22-24 April 1996. P. 197.
Даты проведения конференции:
1996
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Ломов А.А.
Бушуев В.А.
Bocchi C.
Имамов Р.М.
Franzosi P.
Место проведения:
Palermo, Italy, Italy
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич