|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Surface topography formation by gas cluster ion beams: from corrective etching to self-organizationдоклад на конференции
- Авторы: Ieshkin A.E., Kireev D.S., Chernysh V.S.
- Международная Конференция : Online Conference on Charged-Particle Sources & Beams (CPSB)
- Даты проведения конференции: 22 октября 2020
- Дата доклада: 22 октября 2020
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Ieshkin A.E.
- Место проведения: China
- Добавил в систему: Иешкин Алексей Евгеньевич