Эпитаксиальные тонкие пленки h-LuFeO3 на кубической подложке: изучение и математическое моделирование структуры - доклад на конференции | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Авторы: Nygaard Roy, Маркелова М.Н., Шуркина А.С., Цымбаренко Д.М.
Международная Конференция : XXVII Международная научная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых "Ломоносов 2020"
Даты проведения конференции: 20 ноября 2020
Дата доклада: 18 ноября 2020
Тип доклада: Устный
Докладчик: Nygaard Roy
Место проведения: Москва, Россия
Аннотация доклада:
Одним из важнейших факторов, детерминирующих функциональные свойства тонких пленок, является их микроструктура. В данной работе на примере тонких пленок гексагонального феррита лютеция (h-LuFeO3) демонстрируется возможность направленного получения моно- или бивариантных структур путем выбора для осаждения подложки с различной симметрией поверхности. Также предлагается теоретический подход к моделированию интерфейсов, позволяющий предсказывать их конфигурацию.

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ФНКЦ РР
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА