![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Методы магнитной силовой микроскопии совместно с измерениями магнитных характеристик до и после воздействия импульсами слабого магнитного поля (10…100кА/м) низкой частоты (10…20Гц) использованы для изучения особенностей состояния поверхности, определяющих доменную структуру, магнитные свойства и магнитные потери при перемагничивании ленточных аморфных сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB