ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ФНКЦ РР |
||
В настоящее время актуальным является все большая минимизация электроники, а вместе с этим создание и исследование поведения в различных условиях наноразмерных материалов. Это обуславливает необходимость получения информации о локальном атомном строении веществ, поскольку часто высокие функциональные свойства достигаются за счет строго определенной локализации атомов в пространстве. Среди современных методов исследования локальной атомной структуры существует метод, основанный на электронном возбуждении – EXELFS (Extended Electron Energy Loss Fine Structure), где происходит процесс регистрации энергетических потерь электронов. Данные спектры формируются в результате когерентного рассеяния вторичного электрона на локальном окружении возбуждаемого атома. EXELFS являются EXAFS-подобными и несут в себе информацию о параметрах локальной атомной структуры – парциальных координационных числах, длинах химических связей, параметрах термического рассеяния атомов. Однако при работе с экспериментальными данными возникает ряд проблем, связанных с корректной обработкой спектров и их последующим анализом. Данная работа является одним из этапов разработки решения проблемы получения из экспериментальных данных EXELFS информации о параметрах локального атомного строения материала. Существует необходимость создания программного комплекса обработки EXELFS спектров с целью получения параметров локальной атомной структуры – парциальных координационных чисел, длин химической связи и параметров их тепловой дисперсии. Результат, достигнутый к настоящему моменту – создан модуль для предварительного анализа спектров, в котором закладывается необходимая информация: сведения об энергии связи и структурные данные. Модуль принимает экспериментальный спектр и определяет энергию связи, а через нее химический элемент и край возбуждения, после чего определяется структура. Работа выполнена в рамках государственного задания Министерства науки и высшего образования РФ №121030100002-0. Исследования выполняли с использованием оборудования ЦКП «Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий» УдмФИЦ УрО РАН.