Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In0.53Ga0.47As, выращенных в низкотемпературном режиме на подложках GaAs (100) и (111)A с метаморфным буферомдоклад на конференции
Авторы:
Жернова В.А. ,
Фоломешкин М.С. ,
Волковский Ю.А. ,
Просеков П.А. ,
Галиев Г.Б. ,
Климов Е.А. ,
Пушкарев С.С. ,
Писаревский Ю.В. ,
Благов А.Е. ,
Ковальчук М.В.
Всероссийская с международным участием Конференция :
Школа молодых ученых “Современная рентгеновская оптика - 2022”
Даты проведения конференции:
19-22 сентября 2022
Дата доклада:
20 сентября 2022
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Жернова В.А.
не указан
Жернова В.А.
Фоломешкин М.С.
Волковский Ю.А.
Просеков П.А.
Галиев Г.Б.
Климов Е.А.
Пушкарев С.С.
Писаревский Ю.В.
Благов А.Е.
Ковальчук М.В.
Место проведения:
Нижний Новгород, Russia
Добавил в систему:
Жернова Владислава Александровна