ИСТИНА

Геометрия тонких пленок, а также других наноразмерных объектов, таких как магнитные наночастицы и кластеры, хорошо совместима с планарной технологией и MEMS (NEMS)-структурами, в которых механические перемещения вызываются и детектируются электрическим способом. Учитывая, что ряд антиферромагнитных пленок демонстрируют магнитоэлектрические свойства, представляется интересным исследовать, насколько выражены магнитомеханические эффекты в магнитоэлектрических пленках, микро и нано-частицах. В данной работе исследуется возможность существования электроиндуцированного магнитомеханического эффекта в антиферромагнетиках, производится его оценка для образцов различной геометрии, а также рассматриваются методы усиления эффекта, в том числе детектирование резонансного эффекта с использованием зондового микроскопа.