|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Исследование оптических характеристик некристаллических плёнок Ge-Se методом спектроскопической эллипсометриидоклад на конференции
- Авторы: Александрович Е.В., Александрович А.Н., Михеев Г.М.
- Международная Конференция : Аморфные и микрокристаллические полупроводники : 13 Международная конференция, 3–5 июля 2023 г., Санкт-Петербург
- Даты проведения конференции: 3-5 июля 2023
- Дата доклада: 4 июля 2023
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: ФТИ им. Иоффе г. Санкт-Петербург, Russia
-
Аннотация доклада:
Целью настоящей работы являлось получение некристаллических плёнок Ge-Se и определение их дисперсионных зависимостей n(λ) и k(λ), а также других оптических параметров прямым экспериментальным методом спектроскопической эллипсометрии.
- Добавил в систему: Александрович Елена Викторовна