ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ФНКЦ РР |
||
Стандарты по высокоточному оцениванию параметров объектов нужны дистанционных исследованиях при анализе космических изображений и в литографическом оборудовании для производства памяти и процессоров. Для этого в Мат. Обеспечении Измерительно Вычислительных Систем (МО ИВС) предлагаем использовать методы Градиентной Морфологии (ГМ) и методы Математического Микроскопа (ММ).
№ | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
---|---|---|---|---|---|
1. | Презентация | Ter_4.ppt | 5,4 МБ | 8 апреля 2024 [TerentievEN] |