|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Количественный анализ наноструктуры аморфной фазы SiO2доклад на конференции
- Авторы: Чернов М.С., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Соколов В.Н.
- Международная Конференция : 2-й Международный форум по электронно-лучевым технологиям для микроэлектроники
- Даты проведения конференции: 9-12 октября 2017
- Дата доклада: 10 октября 2017
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Чернов М.С.
- Место проведения: Зеленоград, Russia
- Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
- Добавил в систему: Чернов Михаил Сергеевич