|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Исследование тонких пленок AlN методами электронографии и атомно-силовой микроскопиидоклад на конференции
- Авторы: Еловиков C.C., Шахурин Е.С., Зыкова Е.Ю., Гвоздовер Р.С.
- Конференция : XVII Российская конференция по электронной микроскопии
- Даты проведения конференции: 1998
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Добавил в систему: Зыкова Екатерина Юрьевна