|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Computer studies of the 'surface' mechanism of preferential sputtering of two-component solids. Ion beam analysis of surface composition in low dose regimeдоклад на конференции
- Авторы: Samoilov V.N., Yastrghembsky V.I., Tatur A.E.
- Международная Конференция : 12th International Conference on Ion Beam Analysis
- Даты проведения конференции: 22-26 мая 1995
- Дата доклада: 23 мая 1995
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Samoilov V.N.
- Место проведения: Tempe, Arizona, U.S.A., United States
- Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич