Описание:Спецкурс даёт основную информацию об основных методах исследования структуры полимеров и кристаллов, основанных на пропускании электромагнитных волн и их дифракции, и состоит из трёх частей. В первой лекции излагается теория дисперсии диэлектрической проницаемости диэлектриков (теория Лоренца), применимая для широкого диапазона частот. Метод диэлектрической спектроскопии (Часть I) использует малые частоты (от 1 Гц до 50 Мгц), спектры поглощения видимого диапазона получают при длинах волн 0,35 – 0,7 мкм (Часть II), волны рентгеновского диапазона имеют длину, сравнимую с межатомными расстояниями 10 - 20 нм (Часть III, Дифракция рентгеновских волн).
В Ч.I будут изложены основы метода широкополосной диэлектрической спектроскопии. Будут рассмотрены физические основы процессов поляризации и диэлектрических потерь, приведены теории физических явлений, лежащих в основе поведения диэлектриков в постоянном и переменном электрических полях. Будет предложен краткий обзор современных методик измерений диэлектрических спектров в различных интервалах частот. Особое внимание будет уделено анализу диэлектрических спектров в рамках современных теорий диэлектрического отклика, а также применению диэлектрического метода для изучения различных полимерных систем.
Ч.II посвящена спектрам поглощения в видимой области. Анализируются основные схемы эксперимента (основные параметры спектрографов, спектрофотометров; источники света и приёмники, измерительные ячейки). Обсуждаются основные закономерности в спектрах, связанные с особенностями структуры молекул и растворов.
Ч. III посвящена рентгеновским методам анализа вещества. Особое внимание будет уделено анализу спектров рентгеновской порошковой дифракции, определению симметрии и параметров элементарной ячейки кристаллических материалов. Будут изложены основные схемы проведения экспериментов порошковой рентгеновской дифракции и дифракции на монокристаллах.