|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Прецизионное измерение профилей линий в лазерной плазме с использованием преобразования Абелядипломная работа (Специалист)
- Научный руководитель: Лабутин Т.А.
- Автор: Рылов А.В.,
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Год защиты: 2021
- Аннотация: Наблюдение плазмы в оптическом диапазоне привело к появлению метода лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии (ЛИЭС), которая помимо широкого применения в элементном анализе, используется для экспериментального измерения вероятностей переходов и штарковских параметров эмиссионных линий. Необходимо отметить, что за многие десятилетия усилиями научной коллаборации проф. Дмитриевича и Саха-Брешо получено большое количество штарковских параметров (преимущественно расчетными методами), но их количество по-прежнему на порядки меньше, чем необходимо для интерпретации спектров звезд различных классов. Помимо этого, наблюдение некоторых атомных линий используется в спектрах поглощения при изучении формирования «горячих юпитеров». При этом многие сильно подверженные эффекту Штарка атомные и ионные линии с верхним уровнем вблизи потенциала ионизации не наблюдаются при атмосферном давлении из-за высокой электронной плотности, приводящей к чрезмерному уширению, а также снижению эффективного потенциала ионизации. Для таких линий измерения необходимо проводить при пониженном давлении. При пониженном давлении увеличиваются общая светимость плазмы и её геометрические размеры, при этом наблюдаются значительно более низкие значения электронной плотности. Увеличение размеров плазмы может приводить к значительному искажению наблюдаемых спектров из-за интегрирования излучения от разных зон плазмы вдоль оси наблюдения. В этих условиях для надежного измерения контуров линий, определения температуры и электронной плотности плазмы целесообразно восстановление профилей распределения параметров с использованием преобразования Абеля. Соответственно, целью данной работы было экспериментальное определение штарковских ширин и сдвигов высоколежащих атомных линий в лазерной плазме при пониженном давлении. При этом для повышения точности определения необходимо реализовать пространственно-разрешенные измерения и использовать обратное преобразование Абеля.
- Добавил в систему: Лабутин Тимур Александрович