|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Измерение субпикосекундных времен внутризонной релаксации в сверхтонких пленках металлов методом вырожденной четырехфотонной спектроскопиидипломная работа (Специалист)
- Научный руководитель: Шувалов В.В.
- Автор: Бобырев Ю.В.
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Год защиты: 2001
- Аннотация: Методом пикосекундной (длительность импульсов накачки 20 пс) вырожденной четырехфотонной спектроскопии (ВЧФС) экспериментально исследованы сверхтонкие (толщина 15 - 20 нм) сплошные пленки Pt на подложках из стекла К8. Обнаружены характерные спектральные особенности на зависимости эффективности процесса самодифракции от длины волны импульсов накачки. В рамках модели, учитывающей реальную структуру спектра электронных состояний пленок Pt, процессы межзонной и внутризонной релаксации, насыщение и правила отбора для электронных переходов, разогрев электронной подсистемы, проведена интерпретация полученных экспериментальных данных. Показано, что в диапазоне 620 - 635 нм за счет большой энергии (~ 2 эВ) кванта возбуждения нелинейный отклик пленок Pt (как и ранее исследованных пленок Ni и Au) на пикосекундное лазерное воздействие определяется насыщением сразу нескольких межзонных электронных переходов и имеет интерференционный характер. Следствием этого является чрезвычайно высокая чувствительность зависимостей, измеряемых методом ВЧФС, к изменениям значений «подгоночных» параметров модели, что позволяет дать весьма точную (± 10 – 15%) оценку для характерных времен субпикосекундной внутризонной релаксации. Так, по данным проведенных нами ВЧФС экспериментов время внутризонной релаксации в пленках Pt составляет T2 = (180 ± 30) фс. Показано, что в этих условиях температура электронной подсистемы «отрывается» от температуры решетки и достигает Tе = (600 - 800) К
- Добавил в систему: Шувалов Владимир Владимирович