Аннотация:В ходе работы был освоен и изучен метод функционала плотности для расчета практических задач.
Был освоен программный пакет VASP (Vienna Ab initio Simulation Package) с помощью которого производилось моделирование нейтральной и ионизированной молекулы тефлона и поверхности сплавов NiPd с различной концентрацией элементов.
В результате проведенной работы был произведен расчет энергии для нейтральной и ионизированной молекулы тефлона, расчет энергии поверхностной связи никеля и палладия, а также относительная энергия образования поверхности в составе сплавов NiPd в зависимости от различных концентрации.