ИСТИНА

Целью работы является разработка и обоснование физико-математических, алгоритмических, методических, а также программно-аппаратных средств автоматического обнаружения и идентификации наночастиц сканирующим туннельным микроскопом, внедрение которых имеет существенное значение для создания новых перспективных кластерных материалов. В диссертации использован комплексный метод, включающий теоретические исследования и экспериментальную проверку полученных результатов. Работа выполнялась с применением математического моделирования. В теоретических исследованиях использовались: методы расчета атомно-электронной структуры поверхности, численные методы, теоретические основы информатики и программирования, методы обработки графической информации, основы теории искусственного интеллекта и аппарата нейронных сетей. В экспериментальных исследованиях применялись: теория измерения электрических и механических величин, статистические методы обработки результатов исследований, теория точности измерительных систем. – создана комплексная методика численного моделирования протекания процессов электрохимического и химического травления на поверхности заготовки измерительной иглы СТМ на основе уравнений математической физики и химической кинетики; – разработана методика моделирования теоретических СТМ-изображений, учитывающая атомно-электронное строение исследуемой по-верхности и зондирующего острия СТМ; – создана методика идентификации СТМ-изображений наноструктуры поверхности с использованием математического аппарата нейронных сетей, включающая двухэтапный алгоритм обучения, а также алгоритмы локализации объектов на изображениях; – разработан программно-методический комплекс для идентификации объектов наноструктуры поверхности в СТМ, позволяющий проводить теоретическое моделирование СТМ-изображений, моделирование процесса формирования зондирующих острий методом комбинированного травления, а также осуществлять идентификацию наночастиц туннельным микроскопом; – создана комплексная методика численного моделирования протекания процессов электрохимического и химического травления на поверхности заготовки измерительной иглы СТМ на основе уравнений математической физики и химической кинетики; – разработана методика моделирования теоретических СТМ-изображений, учитывающая атомно-электронное строение исследуемой по-верхности и зондирующего острия СТМ, позволяющая получать достоверные изображения; – создана методика идентификации СТМ-изображений наноструктуры поверхности с использованием математического аппарата нейронных сетей; – разработан программно-методический комплекс для идентификации объектов наноструктуры поверхности в СТМ. . Результаты диссертационной работы использованы при разработке и совершенствовании программно-аппаратных средств и методов для изучения наноструктуры поверхности сканирующим туннельным микроскопом и внедрены в ИМ УрО РАН, а также в учебном процессе ИжГТУ.