Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Scanning electron microscopy
журнал
Индексирование: Scopus (1 января 2019 г.-31 декабря 2019 г.)
Период активности журнала: не указан
Издательство:
Scanning Electron Microscopy
Местоположение издательства:
Chicago Il, United States
ISSN:
0586-5581 (Print)
Статьи, опубликованные в журнале
1996
An annular toroidal backscattered electron energy analyser for use in scanning electron microscopy
Rau E.I.
,
Robinson V.N.E
в журнале
Scanning electron microscopy
, издательство
Scanning Electron Microscopy
(Chicago Il, United States)
DOI
1989
SPECIAL FORM SCAN FOR SEM BASED ON MICROPROCESSOR AND ITS APPLICATION
Sasov A.Y.
, Sokolov V.N.,
Rau E.I.
в журнале
Scanning electron microscopy
, издательство
Scanning Electron Microscopy
(Chicago Il, United States)
, том 5, № 1, с. 17
1979
ON THE VISUALIZATION AND MEASUREMENTS OF SURFACE POTENTIALS WITH SEM
Rau EI
, Spivak GV
в журнале
Scanning electron microscopy
, издательство
Scanning Electron Microscopy
(Chicago Il, United States)
, с. 325