Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
журнал
Индексирование: Scopus (1 января 1970 г.-), JCR (1 января 1970 г.-), Белый список (20 октября 2022 г.-)
Период активности журнала: не указан
Другие названия журнала:
IEEE Trans. Comput-aided Des. Integr. Circuits Syst
Издательство:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Местоположение издательства:
Piscataway, NJ, United States
ISSN:
0278-0070 (Print)
Статьи, опубликованные в журнале
2021
SPICE Compact BJT, MOSFET, and JFET Models for ICs Simulation in the Wide Temperature Range (From −200 °C to +300 °C)
Petrosyants Konstantin O.
,
Sambursky Lev M.
,
Kozhukhov Maxim V.
,
Ismail-Zade Mamed R.
,
Kharitonov Igor A.
,
Li Bo
в журнале
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 40, № 4, с. 708-722
DOI
2015
Enabling high-dimensional hierarchical uncertainty quantification by ANOVA and Tensor-Train decomposition
Zheng Zhang
,
Yang Xiu
,
Oseledets Ivan V.
,
Karniadakis George Em
,
Daniel Luca
в журнале
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, том 34, № 1, с. 63-76
DOI