Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
X-Ray Spectrometry
журнал
Индексирование: Scopus (1 января 1970 г.-), JCR (1 января 1970 г.-), Белый список (20 октября 2022 г.-)
Период активности журнала: не указан
Издательство:
John Wiley & Sons Inc.
Местоположение издательства:
United States
ISSN:
1097-4539, 0049-8246 (Print)
Статьи, опубликованные в журнале
2023
Quantification of elements in dietary supplements by total reflection x‐ray fluorescence and inductively coupled plasma optical emission spectrometry
Alov Nikolai V.
,
Danilov Dmitry V.
,
Sharanov Pavel Yu
,
Semenov Valentin G.
,
Panchuk Vitaly V.
,
Savinov Sergey S.
,
Khaydukova Maria M.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 53
DOI
2018
About the assessment of gold concentrations in tiny inclusions within sulfide mineral matrix: An electron microprobe study
Finkelshtein Alexander L.
, Tatarinov Vasiliy V.,
Evgeniya Finkelstein
,
Pavlova Ludmila A.
,
Kravtsova Raisa G.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 47, № 6, с. 423-431
DOI
2017
X-ray fluorescence determination of Cs, Ce, Nd, and Ta concentrations in rocks of various composition
Suvorova D.,
Khudonogova E.
,
Revenko A.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 46, № 3, с. 200-208
2016
Report on the Fourth International Conference on X-ray Analysis in Mongolia
Purev Z.,
Revenko A.
,
Damdinsuren B.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 45, № 4, с. 194-196
DOI
2016
X-ray fluorescence determination of sulfur chemical state in sulfide ores
Chubarov V.
,
Amosova A.
,
Finkelshtein A.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 45, с. 352-356
DOI
2007
X-ray fluorescence analysis with sample excitation using radiation from a secondary target
Vasin M.G., Ignatyev Yu V.,
Lakhtikov A.E.
, Morovov A.P., Nazarov V.V.,
Trakhtenberg L.I.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 36, № 4, с. 270-274
DOI
2002
Influence of heterogeneous surface morphology on analytical signal formation in total-reflection X-ray fluorescence analysis
Alov N.V.
,
Oskolok K.V.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 31, № 3, с. 235-238
DOI
2002
X-ray fluorescence analysis in the Russian State Agrochemical Service: an overview
Pukhovski A.V.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 31, № 3, с. 225-234
2002
X-ray fluorescence analysis in the Russian State Agrochemical Service: an overview
Pukhovski A.V.
в журнале
X-Ray Spectrometry
, издательство
John Wiley & Sons Inc.
(United States)
, том 31, № 3, с. 225-234