|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Способ определения структуры дефектовпатент
- Авторы: Бекман И.Н., Дзелме Ю.Р., Швыряев А.А.
- Номер: N.1565230
- Дата публикации патента: 15 января 1990 г.
- Добавил в систему: Бекман Игорь Николаевич