ИСТИНА

Изобретение относитс к физическим методам исследовани измерений поверхности материалов при воздействии потоков активных частиц, в частности, в плазмохи- мии, радиационной химии и может быть применено в машино- и приборостроении и в особенности при отработке аэрокосмической техники. Образец материала экспонируют в продуктах фоторазложени С02 или смеси СОз + №0 при воздействии вакуумного ультрафиолетового излучени в диапазоне 105-220 нм. Способ повышает достоверность и надежность результатов измерений путем устранени побочных химических реакций исследуемого материала с газовой средой. 1 табл. (Л С