Получение высокоориентированных буферных слоев для сверхпроводящих проводов второго поколения методом химического осаждения из растворовНИР

Источник финансирования НИР

грант РФФИ

Этапы НИР

# Сроки Название
1 1 января 2012 г.-31 декабря 2014 г. Получение высокоориентированных буферных слоев для сверхпроводящих проводов второго поколения методом химического осаждения из растворов
Результаты этапа: Методом химического осаждения из раствора (Chemical Solution Deposition, CSD) можно получать покрытия как аморфных, так и кристаллических оксидов. В этом случае применяют более дешевые, по сравнению с физическими методами осаждения тонких пленок, реактивы и оборудование. Поэтому в последнее десятилетие делаются активные попытки применения метода CSD в технологии ВТСП-лент второго поколения [1]. Целью настоящей работы было нанесение методом CSD высокоориентированных пленок La2Zr2O7 и La2Hf2O7 со структурой пирохлора и/или флюорита на протяженные (до 10 метров) биаксиально-текстурированные ленты-подложки из сплава Ni-5%(ат.)W (Ni-5W) как основы для последующего осаждения слоя YBa2Cu3O7-x. Выбранные оксиды в архитектуре лент выполняют роль буферного слоя, химически инертного по отношению к YBa2Cu3O7-x. Пленки этого материала эпитаксиально выращены на поверхности биаксиально-текстурированного сплава Ni-5W и, благодаря этому, обеспечивают передачу кристаллографической текстуры от металлической подложки к слою сверхпроводника. Кроме того, при достаточной толщине они могут эффективно предотвращать диффузионное проникновение компонентов подложки в слой ВТСП (было показано для оксида La2Zr2O7 [2,3]) и препятствовать ее окислению на этапах высокотемпературной обработки. Исходные вещества-прекурсоры в методе CSD должны при разложении образовывать оксиды и обладать значительной растворимостью. Этим требованиям соответствуют нитраты, некоторые карбоксилаты и другие комплексные соединения металлов с органическими лигандами. Кроме того, важны реологические характеристики растворов, такие как вязкость и угол смачивания поверхности, которые влияют на образование макроскопических дефектов в пленках (поперечные и продольные полосы, пузыри, трещины и др.). В настоящей работе в качестве прекурсоров изучали растворы карбоксилатов (оксалаты, ацетаты, пропионаты, трифторацетаты) в карбоновых кислотах. Их состав и термическую устойчивость подтверждали методами элементного, термического анализов, ИК-спектроскопии и ПМР. Качество полученных после отжига оксидных пленок охарактеризовано рядом физико-химических методов анализа. Для оценки их толщин применяли разновидность растровой электронной микроскопии и рентгеноспектральный микроанализ. С помощью методов рентгеновской дифракции (РФА, ?-сканирование, кривые качания) и дифракции обратноотраженных электронов доказан фазовый состав, оценена степень текстурирования и разориентации кристаллитов в пленках. На основу из полученных оксидов методом MOCVD осаждали высокотемпературный сверхпроводник YBa2Cu3O7-x. Показано, что такого типа оксидные архитектуры способны демонстрировать сверхпроводящие свойства и могут быть использованы в практических применениях. [1] Токонесущие ленты второго поколения на основе высокотемпературных сверхпроводников / под ред. Гояла А. – М.: ЛКИ, 2009. С. 308. [2] Sathyamurthy S., Paranthaman M., Heatherly L., et al. Solution-processed lanthanum zirconium oxide as a barrier layer for high I-c-coated conductors // J. Mater. Res. 2006. V. 1. No 4. P. 910. [3] Харченко А.В., Григорьев А.Н., Самойленков С.В., Кауль А.Р. Получение из раствора высокоориентированных пленок цирконата лантана – буферных слоев для сверхпроводящих лент на основе ВТСП // Докл. РАН. 2013. Т. 452. № 4. С. 396.

Прикрепленные к НИР результаты

Для прикрепления результата сначала выберете тип результата (статьи, книги, ...). После чего введите несколько символов в поле поиска прикрепляемого результата, затем выберете один из предложенных и нажмите кнопку "Добавить".