|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Properties of the YBCO thin film interfero meters fabricated on ZrO2 bicrystal sub stratesстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 января 2016 г.
- Авторы: Kovalev A.S., Krasnosvobodtsev S.I., Kupriyanov M.Yu, Maresov A.G., Ozerenko A.A., Pechen E.V., Pirigov V.G., Pogosova I.S., Snigirev O.V., Vengrus I.I.
- Журнал: IEEE Transactions on Magnetics
- Том: 27
- Год издания: 1991
- Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers
- Местоположение издательства: Piscataway, NJ, United States
- Первая страница: 2442
- Последняя страница: 2445
- Добавил в систему: Снигирев Олег Васильевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | IEEE_M_1991_27_2442.pdf | IEEE_M_1991_27_2442.pdf | 340,8 КБ | 24 февраля 2016 [mkupr] |