|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Исследование локализации электромагнитного поля на периодических структурах и дефектах методом оптической микроскопии ближнего полястатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Ежов А.А., Магницкий С.А., Музыченко Д.А., Панов В.И., Тарасишин А.В.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 11
- Год издания: 2000
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 59
- Последняя страница: 63
- Добавил в систему: Ежов Александр Анатольевич