|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
RBS and XFA analysis of polyimide films from the mir space stationстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Zatekin V.V., Kulikauskas V.S., Novikov L.S., Petukhov V.P., Chernik V.N., Chernykh P.N., Bakhvalov Yu O., Aleksandrov N.G., Smirnova T.N.
- Журнал: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- Том: 2
- Номер: 2
- Год издания: 2008
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 282
- Последняя страница: 285
- DOI: 10.1134/S1027451008020225
- Аннотация: The elemental composition of polyimide film contamination was studied by the RBS and XFA methods. The films were exposed to the space environment aboard the Mir orbital space station during the KOMPLAST in-flight experiment. It was shown that the prevalent deposit element was silicon, which agrees with measurements performed on other spacecrafts
- Добавил в систему: Воронина Екатерина Николаевна