|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Small-angle scattering of X-rays – new way of nano-crystal semiconductors characterizationтезисы доклада
- Авторы: Boiko M.E., Boiko A.M., Sakov A.S.
- Сборник: Abstracts of ASA Annual meeting
- Тезисы
- Год издания: 2003
- Место издания: Denver, CO, USA
- Первая страница: 26
- Добавил в систему: Бойко Михаил Евгеньевич