|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Detecting gold in semiconducting advanced nanomaterials based on tin oxide via total reflection X-ray fluorescence analysisстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 февраля 2016 г.
- Авторы: Filatova D.G., Alov N.V., Sharanov P.Y., Marikutsa A.V.
- Журнал: Moscow University Chemistry Bulletin
- Том: 70
- Номер: 2
- Год издания: 2015
- Издательство: Allerton Press Inc.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 60
- Последняя страница: 62
- DOI: 10.3103/S0027131415020066
- Аннотация: A novel approach to detecting gold in tin dioxide advanced nanomaterials via total reflection X-ray fluorescence analysis (TRXF) is proposed. Data of gold and tin detection acquired via the nonstandard method for powders and with the use of an internal standard technique in aqueous suspensions are compared. Accuracy of the gold detection in powder nanomaterials via TRXF without sample decomposition is shown.
- Добавил в систему: Алов Николай Викторович