SiM‐X: Silicon microcalorimeters for high precision X‐ray spectroscopy of highly‐charged heavy ions at FAIRтезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 апреля 2016 г.
-
Авторы:
Kraft-Bermuth S.,
Andrianov V.A.,
Bleile A.,
Echler A.,
Egelhof P.,
Grabitz P.,
McCammon D.,
Scholz P.
-
Сборник:
Abstracts of the 16th International Workshop on Low Temperature Detectors, 20-24 July 2015, Grenoble, France
-
Тезисы
-
Год издания:
2015
-
Место издания:
Grenoble, France
-
Первая страница:
184
-
Последняя страница:
184
-
Добавил в систему:
Андрианов Виктор Александрович