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Multi-Elemental Analysis of ATHO-G Rhyolitic Glass (MPI-DING Reference Material) by Femtosecond and Nanosecond LA-ICP-MS: Evidence for Significant Heterogeneity of B, V, Zn, Mo, Sn, Sb, Cs, W, Pt and Pb at the Millimetre Scaleстатья
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Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Borisova Anastassia Y., Freydier Remi, Polve Mireille, Jochum Klaus Peter, Candaudap Frederic
- Журнал: Geostandards and Geoanalytical Research
- Том: 34
- Номер: 3
- Год издания: 2010
- Издательство: Association Scientifique pour la Geologie et ses Applications
- Местоположение издательства: France
- Первая страница: 245
- Последняя страница: 255
- DOI: 10.1111/j.1751-908X.2010.00077.x
- Аннотация: This paper reports on the application of variants of LA-ICP-MS - including infrared femtosecond laser ablation (fs-LA) inductively coupled plasma-quadrupole mass spectrometry (ICP-QMS) and nanosecond laser ablation (ns-LA) coupled with single-collector sector-field (SF-) ICP-MS - to the in situ determination of trace elements in different splits of the reference material (RM) ATHO-G (MPI-DING). Analyses of the materials performed by fs- and ns-LA-ICP-MS demonstrated the efficiency of the techniques with typical accuracy at a level of < +/- 20%. One ‘anomalous’ split, however, displayed a significant discrepancy from the reference concentrations for B, V, Zn, Mo, Sn, Sb, Cs, W and Pb. Three- to six-fold enrichment of V, Mo, Cs and Pt relative to the reference contents in this split is likely to have been due to direct contact of the silicate melt with Pt crucible walls and ceramics. Boron, Zn, Sn, Sb, W and Pb depletion relative to the reference concentrations is probably due to siderophile element adsorption by the Pt walls and/or related to the formation of volatile-depleted compositional cords during the preparation process. Our results imply that additional precautions should be taken against volatile/siderophile element heterogeneity in marginal/surface layers (< 10 mm) during the preparation of RMs by the fusion technique.Cet article rend compte de l’application de variantes de la technique LA-ICP-MS - y compris l’ablation laser infrarouge femtoseconde (fs-LA) couplee a un spectrometre de masse quadrupolaire a source plasma a couplage inductif (ICP-QMS) et l’ablation laser nanoseconde (ns-LA) couplee avec un spectrometre de masse a secteur magnetique simple collecteur a source plasma a couplage inductif (SF-) ICP-MS - pour la determination in situ des elements traces dans differents fragments du materiau de reference ATHO-G (MPI-DING). Les analyses des materiaux effectues par fs et ns-LA-ICP-MS ont demontre l’efficacite de ces techniques avec une precision typique < +/- 20%. Cependant un fragment anormal a montre un ecart significatif par rapport aux concentrations de reference en B, V, Zn, Mo, Sn, Sb, Cs, Pb et W. L’enrichissement trois a six fois superieurs en V, Mo, Cs et Pt de ce fragment par rapport au contenu de reference est susceptible d’etre du a un contact direct du liquide silicate avec les parois du creuset en platine et avec la ceramique. L’appauvrissement en B, Zn, Sn, Sb, W et Pb par rapport aux concentrations de reference est probablement due a l’adsorption des elements siderophiles par les parois en platine et/ou relies a la formation de ‘ cordes ‘ compositionnelles appauvris en volatils au cours du processus de preparation. Nos resultats impliquent que des precautions supplementaires doivent etre prises contre la possible formation d’heterogeneites en elements volatils et siderophiles au niveau des couches marginales de surface (< 10 mm) lors de la preparation de materiaux de reference par la technique de fusion.
- Добавил в систему: Борисова Анастасия Юрьевна