|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Determination of Al content in Al/Si thermomigration fabricated structures by X-ray diffractionтезисы доклада
- Авторы: Lomov A., Belov A.Yu, Seredin B., Tatarintsev A., Simakin S.
- Сборник: Proceedings of the Inernational Conference "Micro- and Nanoelectronics - 2018"
- Тезисы
- Год издания: 2018
- Место издания: Maks press Moscow
- Первая страница: 139
- Последняя страница: 139
- Добавил в систему: Татаринцев Андрей Андреевич